平臺(tái)檢測(cè)多為比較測(cè)量,即把被測(cè)尺寸與標(biāo)準(zhǔn)尺寸(如量塊)相比較,測(cè)得被測(cè)尺寸與標(biāo)準(zhǔn)尺寸的差值,從而算出被測(cè)尺寸。比較被測(cè)尺寸與標(biāo)準(zhǔn)尺寸可用兩種方法:指示表法和光隙法。以軸的直徑測(cè)量為例。指示表法(圖7-1a)是將被測(cè)工件...[繼續(xù)閱讀]

    空間直線是與三個(gè)相互垂直的主要投影面(直角坐標(biāo)系的坐標(biāo)平面)都不平行的直線。在圖樣上,空間直線的方向一般用兩個(gè)角度來(lái)表示,所以又稱雙角度直線。以空間直線為軸線的孔稱為空間斜孔(或雙角度斜孔)。空間直線可由兩點(diǎn)或...[繼續(xù)閱讀]

    綜合測(cè)量的精度與基準(zhǔn)件的精度直接有關(guān)?；鶞?zhǔn)件的精度一般應(yīng)比被測(cè)齒輪高1～3級(jí)。測(cè)量5級(jí)、6級(jí)齒輪時(shí),應(yīng)不低于4級(jí),最好用3級(jí);測(cè)量7級(jí)齒輪時(shí),應(yīng)不低于5級(jí);測(cè)量8級(jí)、9級(jí)齒輪時(shí),應(yīng)不低于6級(jí)。目前,我國(guó)的單嚙儀多用蝸桿作為基準(zhǔn)...[繼續(xù)閱讀]

    光學(xué)分度頭是一種通用的角度量?jī)x,按讀數(shù)方式可分為:目鏡式、投影式和數(shù)字式三種。它們的基本結(jié)構(gòu)是相同的,均由主體、尾座、底座及若干附件組成。圖2-56是光學(xué)分度頭的外形。光學(xué)分度頭的測(cè)量原理如圖2-57所示。標(biāo)準(zhǔn)度盤和蝸...[繼續(xù)閱讀]

    1.直接檢定直接檢定多面棱體是用更高精度的圓分度器件,如測(cè)角儀、經(jīng)緯儀、分度臺(tái)、光柵盤及磁柵盤等儀器,直接測(cè)出棱體各角度的實(shí)際值。作為基準(zhǔn)件的高精度圓分度器件需事先檢定其分度誤差值,并以此修正檢定結(jié)果。利用上述...[繼續(xù)閱讀]

    為測(cè)量圖7-11所示工件上圓弧中心O的x坐標(biāo),可根據(jù)被測(cè)圓弧的實(shí)際半徑R選擇圓柱,按圖示方法,用量塊測(cè)出尺寸a,則x=a+R圖7-12中圓弧與直線的兩對(duì)稱交點(diǎn)A、B之間的尺寸,可先測(cè)出圓弧半徑R,然后用兩個(gè)直徑相等的圓柱測(cè)出尺寸M,則顯然...[繼續(xù)閱讀]

    基準(zhǔn)是用來(lái)確定理想被測(cè)要素的方向或(和)位置的要素。對(duì)關(guān)聯(lián)被測(cè)要素提出定向、定位或跳動(dòng)公差要求時(shí),必須在設(shè)計(jì)中指明基準(zhǔn)。當(dāng)只以一個(gè)要素來(lái)確定理想被測(cè)要素的方向或(和)位置時(shí),該要素稱為單基準(zhǔn),如圖5-31所示。當(dāng)只以一...[繼續(xù)閱讀]

    空間平面的坐標(biāo)尺寸一般按圖7-25的兩種方法標(biāo)注:標(biāo)注空間平面和兩個(gè)投影面交線的交點(diǎn)坐標(biāo)(圖7-25a);標(biāo)注空間平面與孔的軸線的交點(diǎn)坐標(biāo)(圖7-25b)。空間平面的坐標(biāo)尺寸,就是這些交點(diǎn)的坐標(biāo)尺寸。可以用圓球法和圓柱法在平板上進(jìn)...[繼續(xù)閱讀]

    投影儀和工具顯微鏡均是多用途的測(cè)量?jī)x器,適用于對(duì)復(fù)雜形狀工件進(jìn)行測(cè)量。...[繼續(xù)閱讀]

    空間直線的坐標(biāo)尺寸只需要在坐標(biāo)尺寸的標(biāo)注平面內(nèi)進(jìn)行測(cè)量,且建立測(cè)得尺寸與要求尺寸之間的函數(shù)關(guān)系即可。通常在平板上利用標(biāo)準(zhǔn)圓柱、正弦規(guī)等工具間接測(cè)量空間直線的坐標(biāo)尺寸。先把被測(cè)工件放在正弦規(guī)上,將正弦規(guī)轉(zhuǎn)一角...[繼續(xù)閱讀]