7.4.1射線探傷概述射線探傷是利用X射線、γ射線和中子射線易于穿透物體,但在穿透物體過程中受到吸收和散射而衰減的性質(zhì),在感光材料上獲得與材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷相對應(yīng)的黑度不同的圖像,從而檢測出物體內(nèi)部缺陷的種類、大小、 (共 3740 字) [閱讀本文] >>
海量資源,盡在掌握
 7.4.1射線探傷概述射線探傷是利用X射線、γ射線和中子射線易于穿透物體,但在穿透物體過程中受到吸收和散射而衰減的性質(zhì),在感光材料上獲得與材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷相對應(yīng)的黑度不同的圖像,從而檢測出物體內(nèi)部缺陷的種類、大小、 (共 3740 字) [閱讀本文] >>
開通會(huì)員,享受整站包年服務(wù)
說明: 本文檔由創(chuàng)作者上傳發(fā)布,版權(quán)歸屬創(chuàng)作者。若內(nèi)容存在侵權(quán),請點(diǎn)擊申訴舉報(bào)