7.4.1射線探傷概述射線探傷是利用X射線、γ射線和中子射線易于穿透物體,但在穿透物體過(guò)程中受到吸收和散射而衰減的性質(zhì),在感光材料上獲得與材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷相對(duì)應(yīng)的黑度不同的圖像,從而檢測(cè)出物體內(nèi)部缺陷的種類、大小、 (共 3740 字) [閱讀本文] >>
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 7.4.1射線探傷概述射線探傷是利用X射線、γ射線和中子射線易于穿透物體,但在穿透物體過(guò)程中受到吸收和散射而衰減的性質(zhì),在感光材料上獲得與材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷相對(duì)應(yīng)的黑度不同的圖像,從而檢測(cè)出物體內(nèi)部缺陷的種類、大小、 (共 3740 字) [閱讀本文] >>