采用紅外光譜分析(Nicolet 560,Thermo Electron Corp,美國(guó))對(duì)樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析,對(duì)炭層粉末采用溴化鉀混合壓片方式測(cè)試,對(duì)薄板樣品采用衰減全反射(ATR)測(cè)定。測(cè)量的范圍為400~4 000 cm-1,分辨率為2 cm-1。 (共 126 字) [閱讀本文] >>
海量資源,盡在掌握
 采用紅外光譜分析(Nicolet 560,Thermo Electron Corp,美國(guó))對(duì)樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析,對(duì)炭層粉末采用溴化鉀混合壓片方式測(cè)試,對(duì)薄板樣品采用衰減全反射(ATR)測(cè)定。測(cè)量的范圍為400~4 000 cm-1,分辨率為2 cm-1。 (共 126 字) [閱讀本文] >>