高介電復(fù)合陽(yáng)極氧化膜理論極限比電容值的研究
摘要: 針對(duì)鋁電解電容器用陽(yáng)極鋁箔表面高介電復(fù)合陽(yáng)極氧化膜,采用文獻(xiàn)跟蹤調(diào)研、數(shù)據(jù)歸納整理、模型構(gòu)建計(jì)算的方法對(duì)其結(jié)構(gòu)、性能和相應(yīng)的理論極限比電容值(C_(max))進(jìn)行了深入研究。首先,對(duì)復(fù)合膜的制備工作進(jìn)行了簡(jiǎn)要回顧?;诮M成成分的介電常數(shù)、形成常數(shù)等基本性能數(shù)據(jù)及復(fù)合模型,討論了復(fù)合膜的結(jié)構(gòu)與性能。研究證明,膜的理想微觀結(jié)構(gòu)是:高介電成分ZrO
2、Ta
2O
5、Nb
2O
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