CCM-YOLO:一種改進(jìn)的電路板密集區(qū)域元件檢測方法

摘要： 以YOLOv5為基準(zhǔn)模型，針對電子元件在電路板上檢測容易出現(xiàn)漏檢、精度較低的問題。通過使用卷積塊注意力模塊(convolutional block attention module, CBAM)在進(jìn)行特征提取過程中提升檢測精度，改進(jìn)邊界回歸損失函數(shù)的方法來改善模型在檢測中出現(xiàn)的漏檢問題。首先，利用卷積層提取元件的特征信息；其次，在路徑聚合網(wǎng)絡(luò)(path aggregation ... （共9頁）