基于NAND Flash的ECC校驗

摘要： 針對NAND Flash在數(shù)據存儲過程中出現(xiàn)的小幾率“位錯誤”,對數(shù)據存儲的可靠性帶來很大影響的問題，提出基于漢明碼的ECC數(shù)據檢測及糾正算法，可以檢測2 bit錯誤且檢測并糾正1 bit錯誤。選用三星生產的K9WAG08U1A,該芯片一頁容量為2 kbyte,以一頁為單位生成ECC校驗碼，增強可行性的同時可以實現(xiàn)1 bit/2 kbyte的糾錯及2 bit/2 kbyte的檢... （共5頁）