D-PSO算法的單變量測(cè)試參數(shù)集成電路篩選方法

摘要： 針對(duì)集成電路尺寸縮小和復(fù)雜度提升導(dǎo)致的篩選成本提高問題，提出了一種針對(duì)單變量測(cè)試參數(shù)的集成電路篩選方法。具體先使用歸并排序算法將參數(shù)值與集成電路編號(hào)拼接成數(shù)組，確保后續(xù)篩選的準(zhǔn)確性，并按照參數(shù)值對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行排序。然后，利用K-means算法對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的異常值進(jìn)行預(yù)處理，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行初步優(yōu)化。最后，通過結(jié)合導(dǎo)數(shù)與粒子群優(yōu)化算法創(chuàng)新性地提出了D-PSO算法，D-PSO算法增強(qiáng)了拐點(diǎn)... （共9頁(yè)）