基于源偶極子的掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的數(shù)值模擬（英文）

摘要： 紅外和太赫茲范圍內(nèi)的掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡能夠突破衍射極限，實(shí)現(xiàn)更小的空間分辨率，在納米尺度結(jié)構(gòu)的光學(xué)特性分析檢測(cè)方面具有重要應(yīng)用。為了進(jìn)一步理解探針與樣品的相互作用，對(duì)探針近場(chǎng)的分析和數(shù)值描述是必不可少的?；谡鎸?shí)的探針形狀的解析模型，結(jié)合數(shù)值模擬的開發(fā)了源偶極子模型（SDM），能夠直接獲得近場(chǎng)檢測(cè)信息，提高計(jì)算效率?；谀M結(jié)果，解釋了天線效應(yīng)、尖端半徑影響和電荷量的影響，并將...