基于交織編碼的抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固技術(shù)研究

摘要： 航空電子設(shè)備中靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器型芯片易受環(huán)境中高能粒子輻射發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)，造成關(guān)鍵存儲(chǔ)數(shù)據(jù)遺失嚴(yán)重影響飛機(jī)安全，當(dāng)前系統(tǒng)級(jí)加固技術(shù)存在糾錯(cuò)能力有限，實(shí)用性不強(qiáng)的問(wèn)題。為增強(qiáng)糾錯(cuò)能力同時(shí)提高實(shí)用性，本文提出構(gòu)造最優(yōu)解循環(huán)移位交織器聯(lián)合(21,16)漢明碼的加固方法，糾正多種錯(cuò)誤圖樣的連續(xù)4 bit及以下翻轉(zhuǎn)，搭建利用單幀重構(gòu)技術(shù)的故障注入平臺(tái)來(lái)替代粒子輻照實(shí)驗(yàn)，無(wú)損高效的評(píng)估加固設(shè)... （共7頁(yè)）