采用數(shù)據(jù)降維的固態(tài)硬盤故障檢測方法

摘要： 針對固態(tài)硬盤SMART數(shù)據(jù)包含大量高維數(shù)據(jù)特征導致故障檢測準確率不理想的問題，結合固態(tài)硬盤SMART數(shù)據(jù)的時序特點，基于門控循環(huán)單元對傳統(tǒng)自動編碼器的結構做了改進，提出了一種基于門控循環(huán)單元稀疏自動編碼器降維的固態(tài)硬盤故障檢測方法(GAL)。首先利用固態(tài)硬盤SMART數(shù)據(jù)訓練GRUAE模型，然后利用GRUAE模型中的編碼器作為降維的工具，對固態(tài)硬盤的原始高維SMART數(shù)據(jù)進行降... （共10頁）