APP 運(yùn)用服從F分布的統(tǒng)計(jì)量或方差比所做的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)。F檢驗(yàn)有廣泛的用途:①檢驗(yàn)兩個(gè)獨(dú)立樣本的總體方差的齊性;②在一個(gè)分類基礎(chǔ)上或在一個(gè)維度上檢驗(yàn)各處理效應(yīng)是否有差異;③分析多個(gè)維度設(shè)計(jì)中,每一維度的各個(gè)處理效應(yīng)是否有 （本文共 411 字 ） [閱讀本文] >>
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