APP 顱內(nèi)壓監(jiān)測(cè)的主要并發(fā)癥是感染和出血。腦實(shí)質(zhì)探頭的感染發(fā)生率較低。通常在顱骨鉆孔處和頭皮穿刺處之間建立皮下隧道,在降低感染發(fā)生率的同時(shí),還便于固定。發(fā)生顱內(nèi)感染的危險(xiǎn)因素主要包括監(jiān)測(cè)裝置的置入時(shí)間超過(guò)5天和手 （共 419 字） [閱讀本文] >>
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顱內(nèi)壓監(jiān)測(cè)的主要并發(fā)癥是感染和出血。腦實(shí)質(zhì)探頭的感染發(fā)生率較低。通常在顱骨鉆孔處和頭皮穿刺處之間建立皮下隧道,在降低感染發(fā)生率的同時(shí),還便于固定。發(fā)生顱內(nèi)感染的危險(xiǎn)因素主要包括監(jiān)測(cè)裝置的置入時(shí)間超過(guò)5天和手 （共 419 字） [閱讀本文] >>
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