回歸模型的t檢驗(yàn)和F檢驗(yàn)都是建立在誤差項(xiàng)εi的正態(tài)性假設(shè)基礎(chǔ)上的.若εi不服從正態(tài)分布,則t檢驗(yàn)和F檢驗(yàn)都會(huì)失去意義.可以利用殘差的P-P圖(或Q-Q圖)進(jìn)行誤差項(xiàng)εi的正態(tài)性檢驗(yàn).方法是:若P-P圖(或Q-Q圖)上的散點(diǎn)隨機(jī)地分布在一條直線 (本文共 188 字 ) [閱讀本文] >>
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 回歸模型的t檢驗(yàn)和F檢驗(yàn)都是建立在誤差項(xiàng)εi的正態(tài)性假設(shè)基礎(chǔ)上的.若εi不服從正態(tài)分布,則t檢驗(yàn)和F檢驗(yàn)都會(huì)失去意義.可以利用殘差的P-P圖(或Q-Q圖)進(jìn)行誤差項(xiàng)εi的正態(tài)性檢驗(yàn).方法是:若P-P圖(或Q-Q圖)上的散點(diǎn)隨機(jī)地分布在一條直線 (本文共 188 字 ) [閱讀本文] >>
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