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C-2 西門氏(Simon)錯分類法
口腔科學

C-2 西門氏(Simon)錯分類法圖片（共1張） :
C-2 西門氏(Simon)錯<span id=分類法" src="https://imgs.zsbeike.com/imgs/G/G01004/g01004.0021.0[0a00af4ce650].png"/>

        概況Simon于1922年,依據(jù)面部三平面標準提出來的錯☆★分類法,方法比較抽象,與錯畸形結(jié)合不夠緊密,臨床上不易準確掌握。三平面1.正中矢狀平面:面部平分為左右兩部分;2.面橫平面(眼耳平面):連接左右眶下緣點與耳屏切跡    （共 189 字）     分類法" href="javascript:void(0)"> [閱讀本文] >>

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